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靜電場(chǎng)測(cè)試儀使用的注意事項(xiàng)

更新時(shí)間:2019-09-16點(diǎn)擊次數(shù):1768
由于物品相互之間的摩擦、擠壓、感應(yīng)等使物體表面積存有不同性質(zhì)的電荷。當(dāng)這些電荷各界達(dá)到一定程度時(shí),就會(huì)產(chǎn)生靜電吸附和放電現(xiàn)象。靜電荷的積聚和放電對(duì)工業(yè)生產(chǎn)會(huì)造成很大的影響和破壞。所以,需要檢測(cè)設(shè)備對(duì)這些靜電荷電場(chǎng)進(jìn)行檢測(cè)。
 
靜電場(chǎng)測(cè)試儀用于測(cè)量靜電電壓、靜電場(chǎng)強(qiáng)、靜電消散時(shí)間、離子平衡度以及人體行走靜電位等。可與電腦連接,輸出并保存數(shù)據(jù)。
 
靜電場(chǎng)測(cè)試儀使用的注意事項(xiàng):
 
1.測(cè)量前,首先應(yīng)檢查電源是否符合規(guī)定,儀器外殼(包括探頭外屏蔽筒)接地是否良好,儀器清零后,方可進(jìn)行測(cè)試。
2.測(cè)試探頭應(yīng)防止在與被測(cè)帶電物體表面垂直的某一股東的空間位置上(按儀器說(shuō)明說(shuō)指明的測(cè)試距離),測(cè)試距離變動(dòng)要引出很大測(cè)試誤差。為了避免被測(cè)帶電體與探頭外殼之間發(fā)生火花放電,開(kāi)始測(cè)量時(shí),探頭必須先放置較遠(yuǎn)(離帶電體)的位置上,逐漸接近帶電體。
3.測(cè)試表面電位時(shí),一般帶電體表面應(yīng)離接地體足夠遠(yuǎn)。如帶電體是薄片或薄膜狀,且背面又靠近接地體,當(dāng)探頭移向接地體附近時(shí),由于局部電荷的感應(yīng)集中,有產(chǎn)生空間放電或表面放電的危險(xiǎn)。
4.當(dāng)帶電體的被測(cè)部位是較大的平板時(shí),其測(cè)量值是較準(zhǔn)確的,但當(dāng)帶電體被測(cè)表面具有一定的曲率半徑時(shí),測(cè)量值就與實(shí)際的電位值有較大差別了。
5.應(yīng)當(dāng)考慮儀器自身特性對(duì)測(cè)試精度的影響,使用前應(yīng)定期進(jìn)行校準(zhǔn)和標(biāo)定。
6.探頭屏蔽深度對(duì)測(cè)試準(zhǔn)確度有一定的影響,感應(yīng)式靜電場(chǎng)測(cè)試儀實(shí)質(zhì)上是對(duì)被測(cè)帶電體某一局部電場(chǎng)的測(cè)試,因而必須盡量減小外電場(chǎng)對(duì)測(cè)試信號(hào)的干擾和影響。通常的方法是把該類(lèi)儀表及其探頭安裝在接地屏蔽的殼體內(nèi),顯然探頭外屏蔽套筒過(guò)深會(huì)降低儀器的測(cè)試準(zhǔn)確度,過(guò)淺容易受到外界電場(chǎng)影響。
7.通過(guò)測(cè)試物體表面電位時(shí)所得值,可作為定性參考,測(cè)量因各種因素影響,在實(shí)際工作中很難達(dá)到。
8.通常電子工業(yè)用的靜電電壓表要考慮測(cè)試精度,應(yīng)能測(cè)試到±10v的靜電電壓。